JEF300-60000

SICK JEF300-60000 on kõrge jõudlusega fotoelektriline sensor, mis on mõeldud täpseks objekti tuvastamiseks ja mõõtmiseks tööstusautomaatika rakendustes. See sensor töötab ajakauguse mõõtmise põhimõttel, kasutades edasijõudnud laseritehnoloogiat, et saavutada kõrge täpsus ja usaldusväärsus. ### Peamised tehnilised spetsifikatsioonid: - **Tuvastamisvahemik:** Kuni 60000 mm, võimaldades mitmekesiseid rakendusi erinevates keskkondades. - **Väljunditüüp:** Konfigureeritavad väljundivalikud, sealhulgas PNP/NPN, analoogpinge ja vooluväljundid erinevate juhtimissüsteemidega integreerimiseks. - **Reaktsiooniaeg:** Kiire reaktsiooniaeg alla 1 ms, sobib kõrge kiirusetaotlemiseks. - **Tööpinge:** Lai tööpingete vahemik 10 kuni 30 V DC, tagades ühilduvuse standardsete tööstuslike toiteallikatega. - **Keskkonna hinnang:** IP67 hinnatud, pakkudes kaitset tolmu ja vee sissetungi eest, muutes selle sobivaks karmidesse tööstuslikes tingimustes. - **Temperatuurivahemik:** Töötemperatuurivahemik -20°C kuni +60°C, võimaldades kasutamist erinevates keskkondades. - **Kommunikatsiooniprotokollid:** Toetab erinevaid kommunikatsiooniprotokolle, et hõlbustada olemasolevatesse süsteemidesse integreerimist, sealhulgas IO-Link edasijõudnud diagnostikaks ja seadistamiseks. - **Paigaldusvõimalused:** Paindlikud paigaldusvõimalused reguleeritavate kinnitusdetailidega, et hõlbustada erinevates seadistustes lihtsat paigaldamist. ### Omadused: - **Laseriklass:** Klass 2 laser, tagades ohutuse, pakkudes samal ajal kõrget täpsust. - **LED-indikaatorid:** Integreeritud LED-indikaatorid lihtsaks oleku jälgimiseks ja tõrkeotsinguks. - **Seadistamine:** Kasutajasõbralik seadistamine tarkvara või riistvaranuppude kaudu, võimaldades kiiret seadistamist ja kohandamist. - **Tugev disain:** Valmistatud vastupidavatest materjalidest, et taluda mehaanilist stressi ja vibratsiooni tööstuslikes keskkondades. SICK JEF300-60000 on ideaalne rakenduste jaoks, nagu pakendamine, materjalide käsitlemine ja montaažiliini automatiseerimine, kus täpne kauguse mõõtmine ja objekti tuvastamine on kriitilise tähtsusega.