SRS50-HUA0-K21

SICK SRS50-HUA0-K21 yra aukštos kokybės lazerinis atstumo jutiklis, sukurtas tiksliai atstumo matavimui ir objektų aptikimui pramoninėse taikymuose. Šis jutiklis veikia laikui bėgant matavimo principu, naudodamas lazerio spindulį, kad nustatytų atstumą iki tikslo su dideliu tikslumu. ### Pagrindinės techninės specifikacijos: - **Matavimo diapazonas:** 0,1 m iki 50 m, leidžiantis įvairias taikymo galimybes įvairiose aplinkose. - **Tikslumas:** ± 10 mm, užtikrinantis patikimus matavimus net ir sudėtingomis sąlygomis. - **Rezoliucija:** 1 mm, teikianti išsamius atstumo duomenis tiksliam valdymui ir stebėjimui. - **Lazerio klasė:** 2 klasė (IEC 60825-1), užtikrinanti saugumą žmonėms esant normalioms eksploatavimo sąlygoms. - **Išėjimo signalas:** Jutiklis turi tiek analoginius (0-10 V arba 4-20 mA), tiek skaitmeninius išėjimus (RS-232 arba RS-485), palengvinančius lengvą integraciją į esamas sistemas. - **Atsako laikas:** Greitas atsako laikas iki 100 ms, tinkamas dinamiškoms taikymams. - **Veikimo temperatūros diapazonas:** -20 °C iki +60 °C, todėl jis tinka įvairioms pramoninėms aplinkoms. - **Apsaugos klasė:** IP67, užtikrinanti atsparumą dulkėms ir vandeniui, kad būtų užtikrintas patikimas veikimas sunkiomis sąlygomis. - **Montavimo galimybės:** Lankstūs montavimo variantai su įvairiais laikikliais, skirtais lengvai įrengti. ### Taikymas: SRS50-HUA0-K21 yra idealus taikymams, tokiems kaip: - Lygio matavimas talpyklose ir silo. - Atstumo matavimas logistikos ir medžiagų tvarkymo srityje. - Objektų aptikimas ir pozicionavimas automatizavimo sistemose. ### Papildomos funkcijos: - **Naudotojui patogi sąsaja:** Lengvas konfigūravimas per SICK SOPAS programinę įrangą, leidžiantis greitai nustatyti ir keisti parametrus. - **Tvirta konstrukcija:** Sukurtas atlaikyti pramonines aplinkas, su tvirtu korpusu ir aukštos kokybės optika. - **LED būsenos indikatoriai:** Teikia vizualinę informaciją apie veikimo būseną ir matavimo rezultatus. SICK SRS50-HUA0-K21 yra patikimas ir universalus sprendimas tiksliai atstumo matavimui plačiame pramoninių taikymų spektere.