DRS25-5GR08192

SICK DRS25-5GR08192 yra aukštos kokybės, kompaktiškas lazerinis atstumo jutiklis, sukurtas tiksliai atstumo matavimui pramoninėse taikymuose. Šis jutiklis veikia laiko skrydžio matavimo principu, naudodamas lazerio spindulį, kad nustatytų atstumą iki objekto su dideliu tikslumu. ### Pagrindinės techninės specifikacijos: - **Matavimo diapazonas:** 0,1 m iki 25 m, tinkamas įvairioms taikymams, įskaitant objekto aptikimą ir pozicionavimą. - **Tikslumas:** ± 1 mm, užtikrinantis patikimus matavimus net sudėtingomis sąlygomis. - **Rezoliucija:** 0,1 mm, teikianti smulkius matavimo duomenis kritinėms taikymams. - **Išėjimo signalas:** Jutiklis turi tiek analoginius (0-10 V arba 4-20 mA), tiek skaitmeninius išėjimus (RS-232 arba RS-485), leidžiančius lanksčiai integruoti į esamas sistemas. - **Atsako laikas:** Greitas atsako laikas iki 100 Hz, leidžiantis realaus laiko atstumo matavimą. - **Veikimo temperatūros diapazonas:** -20 °C iki +60 °C, todėl jis tinka įvairioms pramoninėms sąlygoms. - **Apsaugos klasė:** IP67, užtikrinantis atsparumą dulkėms ir vandeniui, kad patikimai veiktų sunkiomis sąlygomis. - **Montavimo galimybės:** Jutiklį galima lengvai montuoti naudojant standartinius laikiklius, palengvinant montavimą įvairiomis orientacijomis. ### Taikymas: DRS25-5GR08192 yra idealus tokioms taikymams kaip: - Automatizuotos medžiagų tvarkymo sistemos - Robotika ir automatizacija - Lygio matavimas talpyklose ir silo - Objekto aptikimas konvejerių sistemose ### Papildomos funkcijos: - **LED būsenos indikatorius:** Teikia vizualinę informaciją apie jutiklio veikimo būseną. - **Konfigūravimo programinė įranga:** Jutiklį galima konfigūruoti naudojant SICK nuosavybės programinę įrangą, kad būtų galima pritaikyti nustatymus ir kalibravimą. - **Tvirta konstrukcija:** Sukurtas atlaikyti vibracijas ir smūgius, užtikrinant ilgaamžiškumą reikalaujančiose sąlygose. Apskritai, SICK DRS25-5GR08192 lazerinis atstumo jutiklis sujungia tikslumą, universalumą ir patvarumą, todėl jis yra puikus pasirinkimas plačiam pramoninių matavimo užduočių spektrui.