DGS25-1FK02000

SICK DGS25-1FK02000 yra aukštos kokybės atstumo jutiklis, sukurtas tiksliems matavimo ir aptikimo taikymams. Šis prietaisas naudoja lazerinę trianguliacijos technologiją, kad pasiektų tikslius atstumo matavimus su iki 1 mm rezoliucija. ### Pagrindinės techninės specifikacijos: - **Matavimo diapazonas:** 50 mm iki 500 mm - **Išėjimo signalas:** Analoginis išėjimas (0-10 V arba 4-20 mA) ir skaitmeninis išėjimas (RS-232 arba RS-485) - **Atsako laikas:** < 1 ms, leidžiantis greitai atnaujinti matavimus - **Veikimo temperatūros diapazonas:** -10 °C iki +50 °C, tinkamas įvairioms pramonės aplinkoms - **Maitinimo šaltinis:** 10-30 V DC, užtikrinantis suderinamumą su standartinėmis pramonės maitinimo sistemomis - **Apsaugos klasė:** IP67, teikianti tvirtą apsaugą nuo dulkių ir vandens patekimo - **Korpuso medžiaga:** Aliuminio korpusas, užtikrinantis patvarumą ir lengvą svorį - **Svoris:** Apie 300 gramų, palengvinantis montavimą ### Ypatybės: - **Aukšta tikslumas:** DGS25-1FK02000 siūlo didelį tikslumą su tipine linijine klaida ±0,5 mm, todėl jis idealiai tinka taikymams, reikalaujantiems tikslaus atstumo matavimo. - **Universalus sujungimas:** Jutiklis palaiko kelias išėjimo parinktis, leidžiančias integruoti į įvairias valdymo sistemas ir duomenų įgijimo nustatymus. - **Naudotojui patogi konfigūracija:** Prietaisą galima lengvai konfigūruoti per programinės įrangos sąsają, leidžiančią vartotojams nustatyti parametrus ir kalibruoti jutiklį pagal jų specifinius poreikius. - **Tvirta konstrukcija:** Su IP67 reitingu jutiklis sukurtas patikimai veikti sunkiomis pramonės sąlygomis, įskaitant dulkių ir drėgmės poveikį. ### Taikymas: DGS25-1FK02000 tinka plačiam taikymų spektrui, įskaitant: - Automatizuotas gamybos procesus - Robotiką ir automatizavimą - Medžiagų tvarkymą ir logistiką - Kokybės kontrolės ir patikros sistemas Apibendrinant, SICK DGS25-1FK02000 yra universalus ir patikimas atstumo jutiklis, kuris sujungia aukštą tikslumą, tvirtą konstrukciją ir lanksčias sujungimo parinktis, todėl jis yra puikus pasirinkimas įvairiems pramoniniams matavimo uždaviniams.