BEF-KHSQ12ZR01

SICK BEF-KHSQ12ZR01 yra aukštos kokybės fotoelektrinis jutiklis, sukurtas tiksliai objektų aptikimui ir matavimui pramoninės automatizacijos taikymuose. Šis jutiklis veikia laiko skrydžio matavimo principu, naudodamas pažangią lazerių technologiją, kad pasiektų didelį tikslumą ir patikimumą. ### Pagrindinės techninės specifikacijos: - **Tipas**: Fotoelektrinis jutiklis (lazeris) - **Aptikimo diapazonas**: Iki 12 metrų, priklausomai nuo tikslo atspindžio - **Išvesties tipas**: Skaitmeninė išvestis (NPN arba PNP) su reguliuojamais perjungimo slenksčiais - **Atsako laikas**: < 1 ms, leidžiantis greitai aptikti judančius objektus - **Veikimo įtampa**: 10 iki 30 V DC, suderinama su standartinėmis pramoninėmis maitinimo šaltiniais - **Srovės suvartojimas**: < 30 mA, užtikrinantis mažą energijos suvartojimą - **Korpuso medžiaga**: Patvari plastikinė korpusas (IP67 klasė) apsaugai nuo dulkių ir vandens patekimo - **Temperatūros diapazonas**: -20 °C iki +60 °C, tinkamas įvairioms pramoninėms aplinkoms - **Jungties tipas**: M12 jungtis lengvam integravimui į esamas sistemas - **Šviesos šaltinis**: Lazerio klasė 2, užtikrinanti saugumą veikimo metu, tuo pačiu teikiant didelį tikslumą - **Reguliuojamas jautrumas**: Leidžia tikslinti aptikimo parametrus, kad atitiktų specifinius taikymus ### Taikymas: BEF-KHSQ12ZR01 yra idealus taikymams, tokiems kaip: - Objektų skaičiavimas ir buvimo aptikimas konvejerių sistemose - Pozicionavimo ir lygiavimo užduotys automatizuotose surinkimo linijose - Objektų matmenų ir atstumų matavimas kokybės kontrolės procesuose ### Ypatybės: - **Kompaktiškas dizainas**: Vietą taupantis dizainas lengvam montavimui siauriose vietose. - **LED indikatorius**: Integruotas LED statuso indikacijai ir lengvam gedimų šalinimui. - **Patikimas veikimas**: Sukurtas atlaikyti sunkiomis pramoninėmis sąlygomis, užtikrinant ilgalaikį patikimumą. SICK BEF-KHSQ12ZR01 yra universali ir patikima sprendimas, skirtas automatizavimo procesų tobulinimui, teikiant tikslius aptikimo ir matavimo gebėjimus plačiame pramoninių taikymų spektrą.